Diffractomètre type Ɵ – Ɵ, Panalytical X’Pert Pro MPD

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  • Utilisé pour la diffraction sur des échantillons avec un signal important (poudre en quantité suffisante, couches minces) et mesures de réflectivité X (XRR).
Diffraction des rayons X 3
Image générale à gauche et détail du diffractomètre, à droite
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